این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
Journal of Optoelectronical Nanostructures، جلد ۶، شماره ۴، صفحات ۱-۲۰
عنوان فارسی
چکیده فارسی مقاله
کلیدواژه‌های فارسی مقاله
عنوان انگلیسی Design of NIR-TERS system based on optimized grating on the AFM probe under radial polarized light for detection of molecular sample
چکیده انگلیسی مقاله To the best of our knowledge, it is for the first time thatTERS system in near-infrared (NIR) spectrum isreporting. The current study proposed a most favorableatomic force microscopy (AFM) tip based on anincorporated optimal grating structure close to the tipapex. The optimized M2 factor and the best spatialresolution are obtained as 5.9× 109 and 8.5 nmrespectively in the NIR range of radiation light. Theresults show that the optimized grating can effectivelyincrease the amount of intensity of electric field andimprove spatial resolution within the nanoslit between theAFM tip and substrate. The detection sensitivity ofmaterials can be done by our proposed AFM-TERSsystem. The difference between the maximumenhancement factors that are correlated to several undertest sample molecules show the selectivity potential ofthe proposed AFM-TERS system in material detectiontopic.
کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله AFM, NIR sensor, Plasmon, Spectroscopy, TERS
نویسندگان مقاله Mohsen Katebi Jahromi |
Department of Electrical Engineering, Shiraz Branch, Islamic Azad University, Shiraz, Iran.

Rahim Ghayour |
Department of Electrical Engineering, Shiraz Branch, Islamic Azad University, Shiraz, Iran.

Zahra Adelpour |
Department of Electrical Engineering, Shiraz Branch, Islamic Azad University, Shiraz, Iran.

نشانی اینترنتی http://jopn.miau.ac.ir/article_5038_b524f2fcbd8f83f88ffb6bb7b1cdd6da.pdf
فایل مقاله فایلی برای مقاله ذخیره نشده است
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده en
موضوعات مقاله منتشر شده
نوع مقاله منتشر شده
برگشت به: صفحه اول پایگاه   |   نسخه مرتبط   |   نشریه مرتبط   |   فهرست نشریات