این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
پژوهش فیزیک ایران، جلد ۷، شماره ۴، صفحات ۲۱۳-۲۱۸
عنوان فارسی تأثیر غلظت نیترات نقره بر تشکیل نانو ذرات نقره در سیستم ۲SiO-Ag به روش سل- ژل
چکیده فارسی مقاله در این تحقیق، سیستم لایه نازک 2 Ag-SiO با غلظتهای مختلف نقره (2/0%، 4/0%، 6/1% و 8%) بر سطح زیرلایه soda-lime ساخته شدند. پس از مرحله پخت نمونه‌ها، بررسی خواص فیزیکی و شیمیایی لایه‌های نازک سیلیکا (2 SiO ) حاوی نانوذرات نقره، توسط اندازه‌گیریهای اپتیکی برای تعیین خواص نوری لایه‌ها، توپوگرافی و ریزساختار نمونه‌ها توسط میکروسکوپ نیروی اتمی ) (AFM و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) ، اندازه‌گیری دقیق سایز نانوذرات نقره و توزیع آنها در سطح وحجم لایه‌ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) انجام شد. بر اساس تحلیل نتایج به‌دست آمده از روشهای مذکور، بدون انجام عملیات حرارتی مناسب، نانوذرات نقره در غلظتهای خیلی کم نقره (2/0%) و یا خیلی زیاد آن (8%) تشکیل نمی‌شوند، بلکه با در نظر گرفتن غلظت اولیه نقره در یک ناحیه میانی این امر صورت می‌گیرد. در واقع نانوذرات Ag در این غلظتهای حدی در دمای پخت ˚C 2 00 تشکیل می‌شود. همچنین بر اساس مشاهدات TEM ، حداقل متوسط اندازه ذرات سنتز شده، برای غلظت 2/0% نقره در حدود nm 4 تعیین گردید.
کلیدواژه‌های فارسی مقاله نانو ذرات، روش سل - ژل، لایه نازک 2Ag-SiO
عنوان انگلیسی The effect of AgNO3 concentration on formation of Ag nanoparticles in Sol-Gel derived Ag-SiO2 thin films
چکیده انگلیسی مقاله In this investigation, Ag-SiO2 thin films with different concentrations of Ag (0.2, 0.4, 1.6 and 8%) has been fabricated on soda-lime glass substrate using sol-gel method. After an annealing process, physical and chemical properties of the deposited silica films containing Ag nanoparticles have been studied including optical, topographical structural, morphological and size of the nanoparticle as well as their distribution using UV-visble spectrophotometery, atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscopy (SEM), and transmission electron microscopy (TEM) techniques, respectively. Based on our data analysis, the Ag nanoparticles did not form in the samples with low (0.2%) and high Ag concentrations (8%), without any suitable annealing process. Instead, the nanoparticles were formed easily for the intermediate Ag concentrations. In fact, for the the low and high Ag concentration, the Ag nanoparticles formed at the annealing temperature of 200 º C. In addition, according to TEM observations, the minimum average size of the synthesized particles were determined about 4 hm for the thin films containing 0.2% Ag concentration.
کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله nanoparticles, sol-gel method, Ag-SiO2 thin films
نویسندگان مقاله عباس باباپور | a babapour
sharif university of technology
دانشگاه صنعتی شریف
سازمان اصلی تایید شده: دانشگاه صنعتی شریف (Sharif university of technology)

لاله سمیعی | l samii
sharif university of technology
دانشگاه صنعتی شریف
سازمان اصلی تایید شده: دانشگاه صنعتی شریف (Sharif university of technology)

امید اخوان | o akhavan
sharif university of technology
دانشگاه صنعتی شریف
سازمان اصلی تایید شده: دانشگاه صنعتی شریف (Sharif university of technology)

علیرضا مشفق | a r moshfegh
sharif university of technology
دانشگاه صنعتی شریف
سازمان اصلی تایید شده: دانشگاه صنعتی شریف (Sharif university of technology)

نشانی اینترنتی http://ijpr.iut.ac.ir/browse.php?a_code=A-10-1-355&slc_lang=fa&sid=fa
فایل مقاله اشکال در دسترسی به فایل - ./files/site1/rds_journals/1342/article-1342-236225.pdf
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده fa
موضوعات مقاله منتشر شده تخصصی
نوع مقاله منتشر شده پژوهشی
برگشت به: صفحه اول پایگاه   |   نسخه مرتبط   |   نشریه مرتبط   |   فهرست نشریات