این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
Iranian Journal of Materials Science and Engineering، جلد ۳، شماره ۱، صفحات ۹-۱۵
عنوان فارسی
چکیده فارسی مقاله
کلیدواژه‌های فارسی مقاله
عنوان انگلیسی MICROSTRUCTURAL STUDY OF SILICON NITRIDE WHISKERS PRODUCED BY NITRIDATION OF PLASMA-SPRAYED SILICON LAYERS
چکیده انگلیسی مقاله plasma-sprayed silicon layers have been used to produce silicon nitride layers with fibrous microstructure which optimizes fracture toughness and strength. SEM examination of the specimens shows that the surface is covered by fine needles and whiskers of Si3N4.In order to study the oxygen contamination effect as well as other contaminants introduced during spraying and nitridation processes, surface sensitive analysis techniques like AES and XPS have been used to determine concentration of these contaminants.
کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله
نویسندگان مقاله علایی m s | alaee m s
department of physics, faculty of engineering, tehran university, tehran, iran

سازمان اصلی تایید شده: دانشگاه تهران (Tehran university)

نشانی اینترنتی http://ijmse.iust.ac.ir/browse.php?a_code=A-10-1-79&slc_lang=fa&sid=en
فایل مقاله دریافت فایل مقاله
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده en
موضوعات مقاله منتشر شده گروه سرامیک
نوع مقاله منتشر شده Research paper
برگشت به: صفحه اول پایگاه   |   نسخه مرتبط   |   نشریه مرتبط   |   فهرست نشریات