این سایت در حال حاضر پشتیبانی نمی شود و امکان دارد داده های نشریات بروز نباشند
سنجش و ایمنی پرتو، جلد ۷، شماره ۳، صفحات ۵-۱۰
عنوان فارسی اندازه‌گیری ضریب تضعیف خطی کامپوزیت‌های تقویت‌شده با مواد نانو مورد استفاده در حفاظ سازی
چکیده فارسی مقاله استفاده از پرتوهای اشعه ایکس در صنایع مختلف و به‌خصوص در کاربرد‌های پزشکی در حال افزایش است. در این راستا طراحی مواد محافظ سبک و کارآمد بر پایه نانو کامپوزیت‌های پلیمری و مطالعه دقیق تأثیر افزودن نانو ذرات با اندازه‌های مختلف در پلیمرها بر تضعیف اشعه ایکس ضروری به نظر می‌رسد. در این تحقیق نانو کامپوزیت‌های اپوکسی با درصدهای مختلف نانو ذرات اکسید مس (5 و 10 درصد وزنی) تولیدشده و تأثیر پارامترهای مختلف ازجمله انرژی پرتوهای اشعه ایکس و ضخامت نمونه‌ها بر تضعیف اشعه ایکس موردمطالعه قرار گرفت. برای این منظور نمونه‌های نانو کامپوزیتی در معرض اشعه ایکس مشخصه keV 25.27 و keV 28.49 ناشی از قلع قرارگرفته و ضریب تضعیف خطی نمونه‌ها با استفاده از طیف نگار نیمه‌هادی HPGe اندازه‌گیری شد. همچنین نحوه توزیع نانو ذرات درزمینه اپوکسی با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی موردبررسی قرار گرفت. نتایج آزمون اشعه ایکس نشان‌دهنده تفاوت قابل‌توجه توانایی اپوکسی در تضعیف اشعه ایکس با افزودن نانو ذرات می‌باشد. همچنین تصاویر میکروسکوپی توزیع مناسب نانو ذرات درزمینه اپوکسی حتی در درصدهای بالا را نشان می‌دهد.
کلیدواژه‌های فارسی مقاله نانوذره، اکسید مس، اپوکسی، اشعه ایکس، ضریب تضعیف،
عنوان انگلیسی Application of characteristic X-rays to measure linear attenuation coefficient of nano-composites used in shielding
چکیده انگلیسی مقاله Using of X-rays in different industries and especially in medical application is increasing. In this regard, designing of light and efficient protective material based on polymeric nanocomposites and precise study of the effect of adding nanoparticles with different sizes on the X-ray attenuation is necessary. In this study the epoxy nanocomposites with different percentages of copper oxide nanoparticles (5 &10wt%) are produced and the effect of various parameters such as X-rays energy and thickness of the samples on X-ray attenuation was studied. For this purpose, nanocomposite samples were exposed to characteristic X-rays of 25.27 keV and 28.43 keV caused by tin and the linear attenuation coefficient of samples were measured using HPGe semiconductor spectrometer. The distribution of nanoparticles in epoxy was examined using scanning electron microscope. The results of X-ray test demonstrated a significant difference in the X-rays attenuation ability of epoxy by adding nanoparticles. The microscopic images showed proper distribution of nanoparticles in epoxy matrix even in higher percentage.
کلیدواژه‌های انگلیسی مقاله نانوذره, اکسید مس, اپوکسی, اشعه ایکس, ضریب تضعیف
نویسندگان مقاله سمیرا سرشوق |
دانشگاه شیراز

کمال حداد |
دانشگاه شیراز

رضا فقیهی |
دانشگاه شیراز

سید مجتبی زبرجد |
دانشگاه شیراز

محمدهادی مقیم |
دانشگاه شیراز

نشانی اینترنتی https://rsm.kashanu.ac.ir/article_112248_16d013a6c66aefa0e0607326ff83a743.pdf
فایل مقاله فایلی برای مقاله ذخیره نشده است
کد مقاله (doi)
زبان مقاله منتشر شده fa
موضوعات مقاله منتشر شده
نوع مقاله منتشر شده
برگشت به: صفحه اول پایگاه   |   نسخه مرتبط   |   نشریه مرتبط   |   فهرست نشریات